超精密, 层厚度实时测量

SpecMetrix^®系统 将实验室里最先进的光学技术整合到生产线上，可实现无与伦比的精确度。传统的测量系统有许多限制，而 SpecMetrix 系统则不同，它的薄膜厚度测量精度可精确至亚微米级别。我们稳固的 SpecMetrix 系统由专用软件提供技术支持，能够经得起任何制造环境的严格考验。可在施用干湿涂层或薄膜层后，立即在线提供连续实时的涂层和薄膜厚度测量数据。

我们的非接触式且非危害性系统提供即时、可操作数据, 适用于广泛的薄膜和网材应用。因此，SpecMetrix 系统能够为生产和 QA 团队提供更有价值的实时流程控制和质量保证。无需操作人员参与，即可获得有关涂层质量的即时反馈，同时通过直观的质量结果进行工厂管理，非常节省时间、人力和财力。

SSpecMetrix 产品线作为一款质量改善工具受到全球业界领先者的高度认可，行业涉及包装、特种产品、太阳能控制、柔性电子产品和透明导体市场。据悉，这些客户平均在六到九个月内实现全部的投资回报率 (ROI)。

SpecMetrix 系统精确测量薄膜和涂层的绝对厚度, 包括:

• 单涂层或双涂层
• 硅树脂
• 胶粘剂
• UV 硬质涂层
• 隔离涂料
• 面漆
• 抗划伤层
• 其他高效能涂层

对在线测量应用而言，SpecMetrix 系统的固定探头和扫描系统配置，能够满足大部分 QA 的需要。测量系统拥有尖端光纤探头组件，每个探头每秒可测量 70 次以上，生产线速度可达每分钟 1800 英尺。客户可以选择单个或者多个固定探头安装选项，以收集涂层网材正面和底面的厚度数据。

单双面往复测量配置选项，可以轻松提供在线交叉向下网材QA 数据和分析。工厂团队可以自行选择最适合自己生产需求的模式。即使是涂层较薄的应用，系统也能提供涂层网材正面和底面整侧的网材涂层测量数据，因此可以提供无与伦比的 QA 流程改进。

数据将显示在用户友好型触摸屏界面上 数据结果可轻松导出到所有主机数据采集和企业 SPC 系统上。

我们精心设计的解决方案可帮助客户简化生产线准备、转换与检查操作。SpecMetrix 系统可为工厂提供急需的高精确度涂层 QA 数据，从而有效减少浪费和产品成本，同时提高工厂的盈利能力。

SpecMetrix 的过程系统是目前可用的最灵活、最有效和用户友好的非接触式涂层厚度测量解决方案。

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