即时样品测试数据的精度空前。

SpecMetrix 离线系统给 QA 分析带来非接触、无损膜和涂层厚度测量。全球公司在广泛的行业中使用我们的技术作为一种法医工具来确定涂层或层厚度缺陷 (仅举一个例子)。

SpecMetrix 技术通过实时生成超精确的测量数据来改变样本测试。我们的离线系统提供非接触和无损的薄膜包装和涂层测量的可操作的 QA 分析。

我们的系统在平板样品上测量多个薄膜和粘接层, 这种能力没有其他系统提供。

离线系统允许公司快速改进 QA 流程,而无需重新配置生产线以集成我们的在线系统。一旦技术提供了可量化的改进, 就很容易升级到在线配置。

尤其适合：

• 试验生产线
• 测试设施
• 高转换环境

系统易于升级为在线配置.我们灵活、模块化的设计使重构变得容易, 使公司能够离线测试技术。一旦系统提供了可量化的改进和 ROI, 移动到在线是一个简单的升级。

我们直观的软件界面使得 QA 分析更加容易.例如, 可以很容易地将下拉菜单配置为显示公司的涂层;选择特定的涂层即刻加载相关功能。

数据可以以不同的方式显示.例如, 可以在2D 或3D 图形中生成胶片粗细映射。虽然我们的标准选项满足多种需求, 但我们也创建自定义接口。

数据可以存储、打印或转换为公司 SPC 使用.无论您的 QA 评审过程如何, SpecMetrix 都以所需的格式提供所需的数据。

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